XRF 940 V
XRF 940V Gerätefamilie zur Messung an Beschichtungen
im Vakuum
Messaufgaben
- - Analyse von Mehrfachschichten, Schichtsystemen,
- Legierungsschichten
- - Elemente aus Periodensystem von (Na), Mg bis U
- - Schichtdickenbereich nm bis µm
- - Schichtzusammensetzung %, ‰
Anwendungsfelder
- - Solarzellen wie CIS, CIGS, CdTe u. a.
- - Brennstoffzellen
- - Korrosionsschutz
- - Kontaktbeschichtung
- - Magnetschichten
- - Barriere-Schichten